系列配合起偏，檢偏及DIC微分干涉，可以很好的觀察屏的導(dǎo)電粒子，確認(rèn)導(dǎo)電粒子個(gè)數(shù)是否符合要求。

首先，需要觀察導(dǎo)電粒子必須要有配有DIC及起偏檢偏器的金相顯微鏡。對(duì)于觀察導(dǎo)電粒子來說一般選用的鏡頭是要求為不超過20倍為好，超過后會(huì)由于景深的問題導(dǎo)致觀察效果模糊，無法觀察到好的效果。

準(zhǔn)備好金相顯微鏡及必要的屏后就可以開始觀察導(dǎo)電粒子了。首先把DIC及起偏檢偏拉出，然后把屏放置在載物臺(tái)上，調(diào)整好焦距，通過載物臺(tái)移動(dòng)后找到觀察位置?，F(xiàn)在插入起偏及檢偏器，通過目鏡觀察屏上位置，再調(diào)節(jié)檢偏器，直到光線黑時(shí)停止調(diào)節(jié)檢偏器。后插入DIC,調(diào)節(jié)DIC進(jìn)行偏光直到看到導(dǎo)電粒子清晰時(shí)就可以停止了。

產(chǎn)品名稱：導(dǎo)電粒子顯微鏡
產(chǎn)品型號(hào)：PZ-JTM-5040H
產(chǎn)品簡介：主要用于LCD、PDP、PCB等相關(guān)的光電產(chǎn)業(yè)，為其研發(fā)、制造提供所需的檢測設(shè)備。具有觀察OLB壓接粒子分布、液晶板表面貼附的異物、液晶板劃傷情況、測量導(dǎo)電粒子大小、數(shù)量等功能

產(chǎn)品特點(diǎn)：

導(dǎo)電粒子顯微鏡是一種兼顧影像與目視兩用的高精度、率測量儀器。它具有電視成像與目視光學(xué)兩套瞄準(zhǔn)系統(tǒng)，是集光、機(jī)、電、算、影像于一體的測量型金相顯微鏡。該儀器廣泛用于電子組件、精密模具、精密刀具、塑料、PCB加工等方面，不僅可用作坐標(biāo)測量，還可以目鏡標(biāo)準(zhǔn)分劃板作顯微放大比較測量，測量螺紋的節(jié)距、外徑、牙角等工件尺寸或外形輪廓，ACF導(dǎo)電粒子形狀和瑕疵觀察，除應(yīng)用于長度、角度測量外，還可作為觀察顯微鏡。是機(jī)械、電子、儀表、鐘表、輕工、塑料行業(yè)，院校、研究所和計(jì)量檢定部門的計(jì)量室、實(shí)驗(yàn)室已經(jīng)生產(chǎn)車間*的計(jì)量檢測設(shè)備之一。

1. 符合人機(jī)工程學(xué)設(shè)計(jì)準(zhǔn)則方便操作測量

2. 工作臺(tái)一鍵式氣動(dòng)單手快速移動(dòng)操作

3. 可實(shí)現(xiàn)Z軸自動(dòng)對(duì)焦

4. 具有偏光和DIC檢測功能

5. 采用被動(dòng)式減震裝置，提高整機(jī)精度穩(wěn)定性

6. 開發(fā)QMS3D-M軟件，高清晰進(jìn)口1/2"彩色攝像機(jī)

7. 可通過激光指示器尋找被測工件的具體位置，可適應(yīng)復(fù)雜工件的測量

8. 可實(shí)現(xiàn)高度輔助測量

9. Z軸光柵尺分辨力為0.1μm

10. 同軸光/底光測量

11. 可搭配白光納米檢測模塊測量納米級(jí)厚度

規(guī)格參數(shù)：

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