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產品簡介
OLED模組影像測量儀我公司的影像加探針和激光位移器測量應用儀器，可以對二維測量的坐標進行可視化分析處理和檢測，也可以使用探針進行三維幾何元素測量,也可以用激光位移器測量平面度和高度。應用于各種精密制造業(yè)，如手機組件,模具,電子,通信,機械,五金,塑料,儀表,鐘表,PCB,LCD等行業(yè)?？蓽y量的材料包括金屬,塑料,橡膠,玻璃,PCB,陶瓷等;
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OLED 顯示模組、液晶模塊，是指將液晶顯示器件,連接件，控制與驅動等外圍電路，PCB電路板，背光源，結構件等裝配在一起的組件。
OLED模組影像測量儀檢測要求：
2D平面尺寸的測量，高效
1. CG、Pannel——2D尺寸，例如長度、寬度、揚聲器孔和位置、攝像頭孔尺寸和位置、Home鍵尺寸和位置、四角輪廓等等；
2. FPC——排線的線路線寬、線距；上面所有的PIN的間距和位置；任何接插連接的socket的中的針腳的位置和寬度等；FPC上很多的圓槽和定位孔的尺寸；
3. BLU和CG粘合的相對位置的確認；
以上這些尺寸都是2Ｄ測量里基本的要求，采用光學影像（同軸光、底光、環(huán)光），即可高精度高效率的測量。
外殼匹配測量，復合式傳感技術靈活應對3D尺寸
1. 解決LCM和housing 的配合問題，就需要對外殼的內輪廓尺寸，以及定位孔尺寸進行測量，由于金屬外殼的加工過程使得產品邊緣有倒角，如果單純用光學測量的話有時候造成較大的誤差，目前在幾大電子產品代工廠都在用接觸的方式測量外殼和屏幕的配合尺寸，包括外殼上表面或者側面的尺寸。
2. 高度測量
采用大倍率鏡頭對微小臺階進行高度測量，方法是在兩個不同高度的表面進行聚焦，得到Z1和Z2兩個高度，兩者之差就位臺階的高度。
3. 高度方向的掃描
采用白光測頭測量，Z向精度可以達到0.3um，可以測量屏幕表面的平面度、尤其可以測量鏡面材料的表面形貌；
采用掃描方式測量，可以快速測量棒的高度。
OLED模組影像測量儀產品參數：
u 變焦鏡筒：采用光學變焦物鏡，光學放大倍率0.7X~4.5X，視頻總放大倍率40X~400X連續(xù)可調，物方視場：10.6-1.6mm，按客戶要求選配不同倍率物鏡。
u 攝像機：配備低照度SONY機芯1/3′彩色CCD攝像機，圖像表面紋理清晰，輪廓層次分明，保證擁有高品質的測量畫面?？梢陨夁x配1/2′CMOS130萬像素攝像機。
u 底座：儀器底座采用高精度天然花崗石，穩(wěn)定性高，硬度高，不易變形。
u 光柵尺：儀器平臺帶有高精度光柵尺（X,Y,Z三軸），解析度為0.001mm。Z軸通過二次聚焦可實現(xiàn)對溝槽、盲孔的深度進行測量。
u 光源：采用長壽命LED環(huán)形冷光源（表面光及底光），使工件表面照明均勻，邊緣清晰，亮度可調。
u 導軌：雙層工作平臺設計，配備高精度滾動導軌，精度高，移動平穩(wěn)輕松。
u 絲桿：X,Y軸工作臺均使用無牙光桿摩擦傳動，避免了絲桿傳動的間隙，靈敏度大大提高，亦可切換快速移動，提高工作效率。
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